隨著電磁兼容檢測技術(shù)的發(fā)展和提高，人們正針對不同的電子電器產(chǎn)品尋求更為簡單便捷的檢測方法，尤其對于小型的電子產(chǎn)品，如：電動玩具、集成電路(PCB板)、汽車電子零部件等。

　　TEM小室的測量主要是由測試場地和測試儀器組成，常規(guī)的檢測方法有屏蔽室法、開闊場法、電波暗室法等：

　　1、屏蔽室：在EMC測試中，屏蔽室能提供環(huán)境電平低而恒定的電磁環(huán)境，它為測量精度的提高，測量的可靠性和重復性的改善帶來了較大的潛力。但是由于被測設備在屏蔽室中產(chǎn)生的干擾信號通過屏蔽室的六個面產(chǎn)生無規(guī)則的漫反射，特別是在輻射發(fā)射測量和輻射敏感度測量中表現(xiàn)更嚴重，導致在屏蔽室內(nèi)形成駐波而產(chǎn)生較大的測量誤差。

　　2、開闊場：根據(jù)標準要求通常測試場地成橢圓形，長軸是焦距的兩倍，短軸是焦距的倍，發(fā)射與接收天線分別置橢圓的兩個焦點上。兩個焦點的距離即是所要求的測量距離，根據(jù)現(xiàn)有標準可分為3米、10米和30米。我國現(xiàn)有標準大多數(shù)規(guī)定3米法測量，美國的FCC標準、英國的VDE標準要求10米法測量。開闊場一般選擇遠離市區(qū)、電磁環(huán)境較好的地方建造，但這給建造、試驗、生活管理等帶來了諸多不便，并且維修維護成本較高。

　　3、電波暗室：通常所說的電波暗室在結(jié)構(gòu)上大都由屏蔽室和吸波材料兩部分組成。在工程應用中又分全電波暗室(fullyanechoicchamber)(六面裝有吸波材料)和半電波暗室(semianechoicchamber)(地面為金屬反射面)。全電波暗室可充當標準天線的校準場地，半電波暗室可作為EMC試驗場地。電波暗室的主要性能指標有“靜區(qū)”、“工作頻率范圍”等六個(靜區(qū)是指射頻吸波室內(nèi)受反射干擾弱的區(qū)域)。

　　希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本產(chǎn)品。